7月31日至8月2日，“第二屆國際檢驗檢測技術與裝備博覽會”（以下簡稱“檢博會”）在北京國家會議中心舉辦。本屆檢博會以“高端技術、服務民生”為主題，以“質檢、科技、國際”為特色，以“搭建國際平臺，服務檢測市場”為宗旨。檢博會期間，全國質檢系統技術中心、質檢中心、重點實驗室相關負責人及第三方檢測機構、全國質量誠信企業代表到會參觀洽談，參展參會達上萬人次。
梅特勒-托利多作為參展商展示了最新的超越系列分析天平、快速水分測定儀等天平儀器等，同時，梅特勒-托利多還帶來了針對第三方檢測領域的儀器，如電位滴定儀-T50、卡爾費修水分儀-V20、熔點儀-MP90、Seven ExcellenceTM系列儀表-S400等。
8月1日，梅特勒-托利多天平產品市場部何平于國家會議中心會議區三樓報告廳進行演講。演講內容為“檢驗檢測機構實驗室發展與技術品牌保障”，獲得了行業內各位專家的認同。
最終，梅特勒-托利多憑借良好的品牌，性能卓越的產品、優秀的實驗室解決方案，獲得本屆檢博會最高獎項“第二屆國際檢驗檢測技術和裝備博覽會”金獎。
